高屋推出APT-1600FD-SL双面飞行探头测试仪

Takaya公司的APT-1600FD-SL双面飞行探针测试系统用于组装电路板，提供了高速和更大的测试区域，旨在适应5G通信和BMS(电池管理系统)应用的新兴市场的大型电路板。“-SL”系列提供了48%的更大的测试区域，这与包括半导体测试探针卡制造商的应用完全一致。这些客户要求高屋增加他们的双面系统的测试区域。

高屋集团经理罗伊·麦肯齐(Roy McKenzie)说:“我们的客户在说话，我们在倾听。”“他们的电路板非常大，需要同时在电路板两侧进行探测，以验证这个复杂电路的连续性。我们做出了回应，增加了他们希望实现更快、更有效测试的能力。”

APT-1600FD-SL将飞行探测器部署到UUT的两侧。这种双面探测接触有助于显著增加测试覆盖率，也确保了最短的测试时间。与APT-1400F/APT-1600FD系列中的其他型号一样，它的平均头速比现有型号提高了50%，吞吐量提高了30-50%，使其成为业界最快的飞行探头测试系统。APT-1600FD-SL采用了新的10飞行z轴设计，包括四个垂直飞行探头，在传统角度探头无法接触的地方提供了无与伦比的测试点。它的六个顶部和四个底部飞行探头提供了前所未有的性能，只有高屋才有，高屋是飞行探头测试技术的发明者和行业领导者，已有超过25年的历史。

高屋的“软触”探测几乎消除了飞行探测器测试中经常出现的目击痕迹。为了帮助补偿板翘曲，该系统现在配备了激光轮廓系统。在测试PCA之前，对板的表面进行扫描，系统自动补偿任何翘曲，确保最大的探测精度。

APT-1600FD系列配备了新的视觉测试系统TOS-7F，在顶部和底部均以彩色图像为标准。由于百万像素彩色数码相机和高强度白光LED环形照明，TOS-7F可以导入锐利的彩色图像，当场检测缺失、错误的方向和定位错误。

下一代，高精度的测量电子嵌入飞头允许大大提高测量精度和增加的功能能力。新的测量系统包括多个四象限源和测量单元，加上交流正弦波和方波发生器和频率计数器，提供了对组件和电路进行动态特性测试的能力。一个增强的功能扫描板和通信软件，使它容易连接外部仪器，以额外的功能测试功能。

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