Koh Young在SMTAI向美洲市场推出了Neptune C+分配过程检查
True3D™基于测量的检测解决方案行业领导者Koh Young激动地宣布，将于2021年11月1日至4日在明尼苏达州明尼阿波利斯会议中心举行的SMTA国际会议上，在3319展位推出其用于配药过程检测(DPI)的新型Neptune C+。作为SMTA International的首肯赞助商，Koh Young America很高兴能够亲自与您联系并进行合作，同时确保COVID安全协议的实施和维护，以保障您和我们的健康。
海王星C+:业界首个True3D在线点胶工艺检测(DPI)解决方案
保形涂层保护电子产品不受湿气、碎片、腐蚀，增加机械稳定性，减少故障，提高恶劣环境的可靠性。但如果涂层太薄或有缺陷怎么办?失败!
传统的激光共聚焦显微镜和电子显微镜只能测量三维形状，不能检测透明材料。穿透深度太浅了。光学系统使用紫外光，但仅用于简单的二维存在。
我们的L.I.F.T.技术(用于流体断层扫描的激光干涉术)提供非破坏性的3D检测，以精确测量湿/干流体，包括材料厚度——所有的生产速度。LIFT基于低相干干涉测量技术，采用近红外光(NIR)在不考虑透明度的多层流体结构中捕捉图像。
因此，Neptune是业内首个用于透明材料检测的3D光学内联测量解决方案。凭借其集成的翻转、直观的编程和机器学习算法，它允许制造商使用2D、3D和横截面视图来探索其工艺的深度，以全速生产的速度准确地识别缺陷。
使用先进的算法来教检查参数，海王星精确测量材料的覆盖，厚度，和一致性使用用户定义的阈值设置。它还可以检查气泡、裂缝和其他缺陷——甚至是有50微米飞溅痕迹的区域。
除了涂层，它还可以测量填充不足、环氧树脂、粘接等，以提供透明、半透明和有色材料的精确测量。该系统目前适用于丙烯酸、硅酮、聚脲、水性、UV固化和混合涂料。Neptune是业界首个用于透明材料检测的True3D光学测量解决方案，解决了长期存在的行业挑战。
如欲了解更多有关高英获奖技术的信息，请访问SMTA国际展位3319。您可以在smta.org/mpage/smtai上注册参加会议和博览会。如果您不能参加，您仍然可以在我们的地区网站www.kohyoungamerica.com了解更多关于我们最好的检查解决方案。
请务必查看由Koh Young专家Joel sccutchfield和Ivan Aduna提供的免费12部分网络研讨会系列，并下载Koh Young的免费电子书《印刷电路组装者指南》。《SMT Inspection: Today, Tomorrow, and beyond》和《Using IPC-610 to Measure Solder Joints》，由I-Connect007出版。