I-Connect007推出新的视频系列:“预测电子产品的可靠性”，由专家在GEN3上介绍

在这个由11部分组成的系列微网络研讨会中，专题专家Graham Naisbitt和Chris Hunt研究了电化学迁移(ECM)的影响历史和表面绝缘电阻(SIR)测试的发展使用，该测试是由GEN3及其与英国国家物理实验室的联合在过去25年开发的。GEN3和NPL共同创造的标准自世纪之交以来已在世界各地广泛使用。

直到2017年，他们和他们的客户Robert Bosch一起，才证明了ROSE测试接受/拒绝1.56µg/cm2 NaCl等效性的不足，这自20世纪70年代中期以来一直保持不变。

设计来补充GEN3的书，印刷电路汇编器指南…过程验证，整个网络研讨会系列可以在大约一个小时内观看，涵盖了围绕2019年至2021年发布的四项开创性测试标准的全面主题，这些标准为“客观证据”及其在电子世界的广泛影响奠定了基础，无论是在航天、医疗、汽车或通用工业应用的高可靠性领域。

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