GÖPEL电子的SCANFLEX II控制器现在也可作为PXIe

GÖPEL电子的SCANFLEX II控制器现在也可作为PXIe

边界扫描控制器在制造或开发中作为测试PC/软件和目标装配之间的接口。基于最先进的FPGA, SCANFLEX II控制器使应用强大的测试和验证方法。他们使用嵌入在被测电子组件中的仪器,减少了对它们进行测试和编程的物理访问。在这种情况下,SFX II PXIe C4/FXT提供了一个统一的控制平台,具有4个独立的、真正并行的测试访问端口(TAP),最高可达100MHz。这使得通过边界扫描(IEEE1149.x)、处理器仿真、芯片集成仪器或嵌入式诊断程序来同步执行嵌入式测试、调试和编程操作。基本元素包括可编程、多功能32通道I/O混合信号单元,信号频率高达100MHz,可编程TAP协议用于各种处理器调试接口。SFX II PXIe C4/FXT是通过PXI Express x2接口控制的。

由于其多功能架构,SFX II PXIe C4/FXT提供了几乎无限的可能性,可以灵活地结合所有技术,包括混合信号测试,并在一个平台上具有最高的性能。这种解决方案不仅在不使用针的情况下显著提高了复杂板的测试深度,而且还减少了必要的仪器数量。例如,嵌入式功能测试可用于检测和诊断动态故障,而flash组件、微控制器和PLD/FPGA的系统内编程(ISP)特性使其他独立程序员变得多余。

由于具有大量特殊的扩展和配置特性,SFX II PXIe C4/FXT也已经配备了用于测试、验证、调试和编程的未来嵌入式技术。因此,使用PXI Express平台,外部功能测试可以很容易地与嵌入式过程相结合。该系统既适用于开发,也适用于生产。因此,它可以用于原型设计验证、硬件调试、Flash编程、大批量单元的组队测试和现场故障诊断,以获得必要的维修信息。

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