Gen3的Chris Hunt博士将在SMTA电子公司的恶劣环境会议上发表演讲

Gen3的Chris Hunt博士将在SMTA电子公司的恶劣环境会议上发表演讲

英国测试和测量电子工业的制造商Gen3宣布,CTO Chris Hunt博士将在SMTA电子在恶劣环境会议上发言。“客观证据和如何说服审核员”报告将于2022年5月18日(周三)下午16:30 – 17:00在阿姆斯特丹维多利亚公园广场举行。

Gen3的Chris Hunt博士将解决全球行业中每个人都面临的问题,“客观证据”是什么意思/要求?

  • 这将是一个可重复和可再现的度量系统,并且可以有一个与性能直接相关的度量标准。
  • 对于ECM来说,合适的度量标准是电阻。
  • ECM产生腐蚀产物和离子电流,有助于产生不需要的电路元件。
  • 因此,对电路特性之间的隔离电阻的测量提供了直接的电路性能指标。
  • SIR和CAF是测量阻力的技术例子,因此提供了客观证据。

SIR,用于工艺验证测试,最初成立于30多年前。这是英国国家物理实验室的Colin Lea博士领导的英国氟氯烃消除项目的副产品。随着无清洗助焊剂的出现,这是当时确定电化学可靠性和可接受清洁度的唯一测试方法。

它被认为不适合过程控制,过程离子污染检测(PICT)应保持在15分钟内快速有效的控制。

在过去两年,IEC引入了新的测试方法:

  • IEC 61189-5-502 -组件的表面绝缘电阻(SIR)试验- 2021
  • IEC 61189-5-504 -过程离子污染试验(PICT) – 2020

Gen3还将介绍其他测试方法,并比较它们的优缺点,包括离子色谱、傅里叶变换红外光谱、扫描电镜+ EDAX和新型数字显微镜。

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