I-Connect007发布Koh Young网络研讨会系列第5部分:“将过程数据转换为智能”

观察和学习!

在这个12部分的微型网络研讨会系列中，Koh Young主题专家Joel sccutchfield和Ivan Aduna将探讨3D检测、人工智能、CFX、连接和智能工厂的成功。

在不到六分钟的时间里，第五集，“最小化错误呼叫和逃逸”，现在可以观看。最终，我们希望我们的检查解决方案能够在最高水平上执行。这意味着他们准确地捕捉每一个缺陷，当没有缺陷时，他们不会指出缺陷。检验乌托邦意味着没有逃逸，没有虚假呼叫，所有这些都是在最佳线路速度下得到的。对于那些开发和构建检查工具的人来说，降低这两个关键性能指标的愿望是至关重要的。

ACDi的杰西·沃恩(Jesse Vaughan)表示:“我们都想达到目标:零错误呼叫，逃离制造环境。本次网络研讨会的观众将了解一个真正的基于光学和测量分辨率的3d系统，以及不会导致错误呼叫和逃逸的检查方法，如何创建一个‘所有框勾选’的系统。”

设计以补充Koh Young的I-007eBook, The Printed Circuit Assembler ‘s Guide to…SMT Inspection, Today, Tomorrow and Beyond，在整个系列中，主持人Scutchfield和Aduna分享了在检查过程中收集的数据的使用高度集中的教育信息。

整个网络研讨会系列可以在一个小时内观看，涵盖了围绕3D检查和在检查过程中收集的智能数据的使用的全面主题。12个片段中的大部分可以在大约5分钟内观看。

访问转换过程数据为智能和开始观看免费今天!